Photon-Emission-Guided Laser Fault Injection Enables RP2350 Secure Debug
3 hours ago
- 研究人员使用差分光子发射显微镜定位RP2350微控制器上的DEBUGEN寄存器，从而实现精确的激光故障注入。
- 在两个邻近位置施加激光脉冲，在DEBUGEN寄存器中设置两个比特，从而在永久禁用调试设置的情况下恢复安全调试访问权限。
- 启用安全调试后，在固件应用运行时锁之前，一次救援复位使芯片停止运行，从而能够从一次性可编程存储器中恢复秘密。
- 该攻击需要破坏性的物理访问（背面封装开封）、约25万美元的实验室设备以及硬件安全专业知识。
- RP2350的一次性可编程存储器对关键标志使用冗余编码，但DEBUGEN寄存器缺乏此类保护，使其容易受到激光故障注入攻击。
- 救援复位功能（通过RP-AP）在不运行用户固件的情况下恢复宽松的锁状态，从而能够访问原本受保护的一次性可编程存储器数据。
- 诸如DEBUGEN_LOCK和ACCESSCTRL之类的基于软件的缓解措施是有限的，因为调试器可以在救援复位后停止内核或利用固件前的状态。
- 系统层面的教训是，安全性依赖于完整的执行路径，从一次性可编程存储器配置到可变寄存器和复位行为，而不是单个机制。